文献综述
文 献 综 述1.研究背景液晶显示器件广泛应用于各种家用电器和仪器仪表。
液晶显示屏(LCD)由于生产工艺繁杂,易受周围环境影响,容易产生缺陷,因此, LCD显示缺陷的检测对改进LCD生产工艺、提高其产品质量有重要的意义。
常用的方法有人工视觉检测、电学参数检测和自动光学检测,前两者一般用来检测宏观缺陷,无法检测微观缺陷。
传统的人工视觉检测中,由于人眼的分辨率不高,主观性大,会出现漏检误检,长期工作产生的视觉疲劳会导致检测稳定性不高,质量检测精度难以保证,无法形成统一的检测标准。
自动光学检测以其非接触性、高性能等优点得以快速发展。
很多学者对LCD显示缺陷自动检测进行了研究,但大量方法中,有些没有很好地克服光照影响,有些对图像旋转敏感,有些要求被测对象背景简单,有些无法检测出缺陷信息等,且基本没有方法能够检测与目标背景相近的缺陷【1】。
常见的LCD显示屏的缺陷主要有线缺陷、点缺陷以及Mura缺陷。
不同的缺陷形成原因各不相同，线缺陷属于功能性缺陷，主要是驱动功能的元器件损坏造成的，这种缺陷会导致画面显示不良。
LCD显示屏缺陷类型中最常见的是点缺陷，这种缺陷是由于在生产过程中，玻璃基板的像素驱动损坏，产生像素不良或破损，在显示时就会出现点状的缺陷。
剩余内容已隐藏，您需要先支付 10元 才能查看该篇文章全部内容！立即支付
以上是毕业论文文献综述，课题毕业论文、任务书、外文翻译、程序设计、图纸设计等资料可联系客服协助查找。
