基于单片机的智能光敏电阻检测装置的设计文献综述
一、研究背景及意义
光敏电阻的阻值不是固定的，它会随着光照的强弱变化而变化。光敏电阻的主要参数包括暗电阻、亮电阻、7值、光照特性等。不同应用领域对光敏电阻有关参数的要求也不一样，生
产厂家根据用户对亮电阻、暗电阻和y值等参数的要求范围来为生产的光敏电阻分类，这就是光敏电阻的测试分档。光敏电阻测试分档是光敏电阻生产环节中的一个重要工序，如果不能准确地根据相关参数分档，就会造成灵敏度的高低不同，在应用时造成最终产品的启动不一致。目前，国内厂家的测试分档很多以手工操作为主，这大大地影响了分档的精度、速度和产品的一致性。该装置利用AVR单片机来进行光敏电阻在不同环境条件下的阻值数据采集与处理，采用流行的USB总线进行数据传输，从根本上解决了手工分档的一系列问题，大大提高了光敏电阻产品分拣的精度和速度，对于提高光敏电阻生产效率，确保产品质量和生产流程的自动化都具有重要意义。
二、国内外研究概况
我国是世界上光敏电阻的生产大国，光敏电阻的生产地集中在南阳和沿海地带，影响力较大的厂家有：南阳信利达有限公司、河南中光学集团有限公司、南阳利达光电有限公司、苏州尼赛拉电子有限公司、珠海利佳电子发展有限公司、深圳市森霸光电有限公司、昆山正和电子有限公司等。这些厂家肩负着我国光敏电阻产业的主要生产任务，但目前生产设备和生产技术仍与国外有很大差距，仍摆脱不掉长期沿袭的廉价低效的手工生产工序。随着电子信息技术的飞速发展和对电子元器件性能要求的不断增强，我国光敏电阻的生产技术也必须迎头赶上世界潮流，如今一些厂家己从日本和德国引进了先进的光敏电阻生产技术，但引进技术的投资无疑是巨大的，国内企业迫切需要拥有自己的技术支持。这对于提高产品质量，降低生产成本、增强企业的市场竞争力都至观重要。
- 技术分析
介绍了一种基于AVR单片机的光敏电阻测试装置的设计方法。系统使用AVR单片机Atmegal6对8路光敏电阻的亮电阻、暗电阻等参数进行数据采集，通过USB接口把数据传送到上位机。用VB编写的上位机应用程序完成数据通信、分析处理等，人机界面友好。实测表明：系统具有较高的测量精度和较强的适应性。
1、系统硬件设计
光敏电阻测试装置的研制涉及光源设计、电阻的自动测量、数据的采集与处理、单片机和计算机的数据传输、分档信号的显示及控制等部分。系统总体设计框图如图1所示。其中PC机控制单片机来进行A／D采集，完成8路光敏电阻亮电阻、暗电阻等参数的采集，采集后的数据由USB接口传送至PC机，由PC机完成参数的后续处理，算出对应的y值，随
以上是毕业论文文献综述，课题毕业论文、任务书、外文翻译、程序设计、图纸设计等资料可联系客服协助查找。
