文献综述
双折射元件一直被广泛地应用于各种偏振光学系统中，比如双频激光干涉仪，光隔离器，偏光显微镜等。在激光干涉仪中，通过1/4波片将激光器输出的圆偏振光转换为线偏振光，而1/4波片相位延迟的偏差会带来较大的非线性误差，影响测量的精度。此外一些光学元件在加工过程中会引入残余应力，这将对整个光学系统的性能产生影响，如光学透镜中的残余应力影响成像质量。所以，精确测量材料的双折射大小是极其必要的。
随着对双折射研究的深入，双折射的测量方法不断改进，根据工作原理和操作方法的特点，双折射测量技术大致可以分为：旋转消光法、椭偏仪法、偏振干涉法、外差干涉法、频率分裂法、半阴法、调制补偿。总之，目前常见的一些双折射测量方法大都涉及到角度测量，需要增加标准波片对比等，测量系统比较复杂，成本较高，精度受诸多因素制约，不利于样品的在线测量以及在实际生产中的应用。而利用激光回馈的方法测量双折射元件的相位延迟大小，光路结构简单，被测件无需镀膜，测量精度高，具有比较大的发展潜力。激光回馈，或称为自混合干涉，是指激光器的输出光经外部物体散射后，其中沿原路返回的光回到激光器的内部，与激光器内部的初始激光相干涉，调制激光器的输出。由于回馈光经过物体散射，光束中携带有物体的位移、振动、速度和形貌等信息，当分析激光器的输出信号时，便可以解调出物体的这些信息。所以，自从60年代激光回馈现象被发现以来，各国都投入了大量精力将激光回馈技术应用到精密计量领域之中。经过几十年的研究后，激光回馈技术在实验现象以及工业应用上取得了大量研究成果，并且制备出不少商业化仪器，推动了科技进步和生产发展。随着以后研究的深入，激光回馈技术的应用领域将不断拓展。
课题利用激光回馈效应实现双折射测量系统的构建，完成双折射元件相位延迟大小的测量，并将系统仪器化，将仪器应用到实际生产检测之中，而自然双折射元件被广泛应用于各种偏振光学系统中，普通光学元件在加工过程中引入的残余应力也会影响系统的性能。随着研究的不断发展深入，人们对双折射元件的加工和测量精度的要求日益提高，因此研究高精度的测量方法对实际生产有着极其重要的意义。
参考文献
[1]张书练.正交偏振激光原理[M].清华大学出版社,2005.
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